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應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)使其成為*的光學(xué)測量產(chǎn)品。該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量，全面掌握應(yīng)力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器，適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)，使其成為*的光學(xué)測量產(chǎn)品。 應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量，全面掌握應(yīng)力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器，適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200主要特點:
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操作簡單，測量速度可以快到3秒。
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采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。
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測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
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具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。
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維護簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機構(gòu)。
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*很高的殘余應(yīng)力測量設(shè)備。
主要應(yīng)用：
· 光學(xué)零件（鏡片、薄膜、導(dǎo)光板）
· 透明成型品（車載透明零件、食用品容器）
· 透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）
· 透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結(jié)晶鉆石）
· 有機材料（球晶、FishEve）
技術(shù)參數(shù)：
| 項次 | 項目 | 具體參數(shù) |
| 1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應(yīng)力換算（選配）【MPa】 |
| 2 | 測量波長 | 520nm、543nm、575nm |
| 3 | 雙折射測量范圍 | 0-3500nm |
| 4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
| 5 | 測量重復(fù)精度 | <1nm（西格瑪） |
| 6 | 視野尺寸 | 218x290mm-360×480mm（標準） |
| 7 | 選配鏡頭視野 | 無選配 |
| 8 | 選配功能 | 實時解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實現(xiàn)外部控制，CD模式 |